集显微镜•SEM•粗糙度仪的功能于一身——形状测量激光显微系统VK-X100/X200 系列

日期：2026-10-02 14:50

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摘要：

3月27日，工业自动化领域，销售传感器、测量仪器、显微系统以及逻辑控制系统的供应商，日本知名企业基恩士在北京召开了媒体见面会。会上指出将加强在中国市场「形状测量激光显微系统　VK-X100/X200 系列」的销售。VK-X100/X200 系列1台机器便可以实现****的高分辨率大范围形状测量。

「形状测量激光显微系统　VK-X100/X200 系列」的特点如下；

高分辨率，大景深观察

(1) 高分辨率， **放大24000 倍

(2) 完全聚焦的清晰图像

(3) 符合溯源性要求

仿佛彩色 SEM

(1) 16 bit 激光彩色观察

(2) 放置并且测量，您可以在几秒钟内进行分析

(3) 可拆卸测量头单元允许各种尺寸的样品测量。可拆卸测量头单元可以与其他设备整合并支持远程操作。

无损轮廓和粗糙度测量

(1) 非接触式设计，可用于测量软质的工件

(2) 方便定位测量区域

(3) 激光光束波长比表面粗糙度测量直径小