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使用涂层测厚仪时应当遵守的规定

日期:2020-01-28 02:39
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摘要:
      1、基体金属特性
  对于磁性方法,标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度,应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。
  
  对于涡流方法,标准片基体金属的电性质,应当与试件基体金属的电性质相似。
  
  2、基体金属厚度
  检查基体金属厚度是否超过临界厚度,如果没有,可采用3.3中的某种方法进行校准。
  
  3、边缘效应
  不应在紧靠试件的突变处,如边缘、洞和内转角等处进行测量。
  
  4、曲率
  不应在试件的弯曲表面上测量。
  
  5、表面清洁
  测量前,应**表面上的任何附着物质,如尘土、油脂及腐蚀产物等,但不要除去任何覆盖层物质
  
  磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中,低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的),为了避免热处理和冷加工因素的影响,应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。
  
  6、读数次数
  通常由于仪器的每次读数并不完全相同,因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异,也要求在任一给定的面积内进行多次测量,表面粗造时更应如此。

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