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		UV-A型紫外辐照计采用SMT贴片技术,选用低功耗数字芯片,仪器外壳为流线型设计,探测器经过光谱及角度特性校正,性能稳定,适用性强。该仪器适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
	
	
		 
	
	
		UV-A(双通道)紫外辐照计技术参数
	
	
		
			 
		
		
			
				
					| 探头: | UV-420nm 探头 | UV-365nm 探头 | 
				
					| 波长范围及峰值波长: | λ:(375~475)nm;λP=420nm | λ:(320~400)nm;λP=365nm | 
				
					| 紫外带外区杂光: | UV420:小于0.02% | UV365:小于0.02% | 
				
					| 辐照度测量范围: | (0.1~199.9×10³) μW/cm² | 
				
					| 相对示值误差: | (相对与NIM标准) | 
				
					| 角度响应特性: | ±5%(α ≤10°) | 
				
					| 线性误差: | ±1% | 
				
					| 短期不稳定性: | ±1%(开机30min后) | 
				
					| 响应时间: | 1秒 | 
				
					| 使用环境: | 温度(0~40)℃,湿度<85%RH | 
				
					| 尺寸和重量: | 160mm×78mm×43mm;0.2kg | 
				
					| 电源: | 常规使用6F22型9V积层电池一只 亦可使用数据线连接USB接口、5V电源适配器供电
 整机功耗 <0.2VA
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		UV-A(双通道)紫外辐照计产品特点
	
	
		
			 
		
		
			* 光谱及角度特性经校正
		
		
			* 数字液晶显示,带背光
		
		
			* 手动/自动量程切换
		
		
			* 数字输出接口(USB冗余供电)
		
		
			* 低电量提醒
		
		
			* 自动延时关机
		
		
			* 有数字保持
		
		
			* 轻触按键操作,蜂鸣提示