美国DAKOTA多功能超声波测厚仪CMX2-DL&CMX3-DL代替CMXDL

基于 FPGA 技术的 100MHz 数字信号处理平台设计
双通道-双脉冲发生器和接收器
250Hz 脉冲重复频率(PRF)
CMX2-DL,1/8 英寸VGA 灰度显示
CMX3-DL,1/4 英寸VGA 彩色显示
屏幕刷新率:灰度 25Hz,彩色 60Hz
100dB 可调增益范围,自动增益控制(AGC)
时间相关增益(TDG),具有可调的斜率
双晶探头和单晶探头
内置4GB SD 卡
USB Type-℃ 数据接口
美国制造
CMX2-DL替代 CMXDL+
CMX3-DL 替代 CMXDL+彩屏版

测量
- 脉冲-回波(P-E)模式测量范围: 0.63mm~30.48m(钢)
- 脉冲-回波涂层(PECT)模式测量范围: 0.63mm~30.48m(钢),0.0254~2.54mm(涂层)
- 脉冲-回波温度补偿(PETP)模式 测量范围: 0.63mm~30.48m(钢)
- 回波-回波(E-E)模式测量范围: 2.54~152.4mm(钢,穿过涂层测量,范围取决于涂层)
- 回波-回波验证(E-EV)模式测量范围: 2.54~102mm(钢,穿过涂层测量,范围取决于涂层)
- 测量涂层(CT)模式测量范围: 0.0127~2.54mm(涂层)
- 分辨率:0.01mm和0.001mm
- 声速范围:309.88~18542m/s
- 单位:公制或英制
- 一点和两点校准方式
显示
- CMX2-DL:1/8英寸 VGA 灰度显示屏,240x160 象素 可视区62x45.7mm,EL背光,25Hz刷新频率 CMX3-DL:1/4英寸 AMOLED 彩色显示屏,320x240 象素 可视区43.2x57.6mm,60Hz刷新频率
- A-扫描方式:检波+/-(缺陷视场),RF(全波视场) 纵向和横向视图(CMX3-DL)
- B-扫描方式:基于时间的横截面视图,显示速度为每秒10到 200个读数
- 大数字方式:标准厚度显示,数字高度17.78mm(CMX2-DL) 和14.35mm(CMX3-DL)
- 厚度条形扫描:速度33Hz,在B-扫描和大数字显示模式中可见
- 稳定度指示:表示测量值的稳定性
- 功能状态指示:显示当前激活的功能
超声波参数
测量模式:P-E、PECT、PETP、E-E、E-EV、CT 模式脉冲:可调方波脉冲发生器。
接收:根据选择模式采用手动调节增益或自动增益控制
(AGC),范围:110dB
阻抗 50~1500可调
·计时:单次100MH28位超低功耗数字化仪的**
TCXO 计时
脉冲重复频率:250HZ
探头
频率范围:1~20MHZ
探头种类:双晶探头
延迟块、接触式、笔形单晶探头LEMO 接口,1.2 米探头线
存储
·容量:内置 4GB SD 卡
数据结构:网格(字母数字)和顺序(自动识别)
截屏功能:位图图形捕获,用于快速记录
数据输出:通过 USB Type℃ 传输到计算机
其它
·键盘:12 个触摸键
电源:标准配置为三节5 号碱性电池,电量状态指示。无操作五分钟后自动关机。USB Type-℃ 供电
外壳:挤压铝机壳,底盖用镀镍铝板加密封垫封装
工作温度:-10~60℃℃
尺寸:63.5x165x31.5mm
重量:385g(包括电池)
符合 NIST和 MILSTD-45662A 标准

型号
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频率
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晶片尺寸
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说明
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T-102-2900
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5MHz
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晶片 Ø6.35mm,防磨面 Ø9.53mm
测量范围 1.0~152.4mm
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标准 CT 双晶探头
(随机标准配置,可测涂层)
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T-402-5507
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15MHz
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晶片 Ø6.35mm
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单晶延迟块探头
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T-4023-2855
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5MHz
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晶片 Ø6.35mm
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单晶延迟块探头
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T-4023-4855
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10MHz
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晶片 Ø6.35mm
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单晶延迟块探头
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