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  • 产品名称:紫外辐照计

  • 产品型号:UV-340/UV-313
  • 产品厂商:国产金达通
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简单介绍:
UV-340/UV-313紫外辐照计 照度计 该款紫外辐照计采用 SMT 贴片技术,选用低功耗数字芯片,仪器外壳为流线型设计,探测器经过光谱及角度特性校正,性能稳定,适用性强。适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作
详情介绍:

 

产品用途.jpg
UV-340/UV-313紫外辐照计产品用途

 

该款紫外辐照计采用 SMT 贴片技术,选用低功耗数字芯片,仪器外壳为流线型设计,探测器经过光谱及角度特性校正,性能稳定,适用性强。适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。

 

 

性能特点.jpg

 UV-340/UV-313紫外辐照计性能特点

 

* 光谱及角度特性经校正

 

* 数字液晶显示,带背光

 

* 手动/自动量程切换

 

* 数字输出接口(USB,冗余供电)

 

* 低电量提醒

 

* 自动延时关机

 

* 有数字保持

 

* 轻触按键操作,蜂鸣提示

 

 

技术参数.jpgUV-UV-340/UV-313紫外辐照计技术参数

 

 

*  波长 范围及峰值波长:( 以下两种选其一) 

 

(1)UV-340 探头:λ:(315~370)nm;λ P =340nm

 

(2)UV-313 探头:λ:(290~340)nm;λ P =313nm

 

*  辐照度测量范围:

 

(0.1~199.9×10³ ) μW/cm 2

 

*  紫外带外区杂光:

 

UV313:小于 0.05%

 

UV340:小于 0.05%

 

*  相对示值误差:±10%(相对与 NIM 标准)

 

*  角度响应特性:±5%(α ≤10°)

 

*  线性误差:±1%

 

*  换档误差:±1%

 

*  短期不稳定性:±1%(开机 30min 后)

 

*  疲劳特性:衰减量小于 2%

 

*  零值误差:满量程的±1%

 

*  响应时间:1 秒

 

*  使用环境: 温度(0~40)℃,湿度<85%RH

 

*  尺寸和重量:160mm×78mm×43mm;0.2kg

 

*  电源 : 常规使用 6F22 型 9V 积层电池一只

 

亦可使用数据线连接 USB 接口、5V 电源适配器供电

整机功耗 <0.1VA

 

 


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